Microscopio electrónico de barrido de pistola de emisión de campo Schottky A63.7080 Std FEG SEM, 15x ~ 500000x
| A63.7080 Pistola de emisión de campo Schottky Microscópio electrónico escaneando Pro FEG SEM | ||
| Resolución | 1,5 nm a 15 KV (SE); 3 nm a 20 KV (EEB) | |
| Aumento | 15x ~ 500000x | |
| Pistola de electrones | Pistola de electrones de emisión Schottky | |
| Corriente de haz de electrones | 10pA ~ 0.3μA | |
| Acelerando el Voatage | 0 ~ 30KV | |
| Sistema de vacío | 2 bombas de iones, bomba turbo molecular, bomba mecánica | |
| Detector | SE: Detector de electrones secundarios de alto vacío (con protección de detector) | |
| BSE: Detector de dispersión trasera de cuatro segmentos de semiconductores | ||
| CCD | ||
| Etapa de la muestra | Etapa motorizada eucéntrica de cinco ejes | |
| Rango de viaje | X | 0 ~ 80 mm |
| Y | 0 ~ 50 mm | |
| Z | 0 ~ 30 mm | |
| R | 360º | |
| T | -5º ~ 70º | |
| Diámetro máximo de la muestra | 175 mm | |
| Modificación | EBL; STM; AFM; Etapa de calentamiento; Etapa criogénica; Etapa de tracción; Manipulador micro-nano; SEM + Máquina de recubrimiento; SEM + Laser Etc. | |
| Accesorios | Detector de rayos X (EDS), EBSD, CL, WDS, máquina de recubrimiento, etc. | |
La microscopía electrónica de barrido (sem) es adecuada para la observación de la topografía de la superficie de metales, cerámicas, semiconductores, minerales, biología, polímeros, compuestos y materiales unidimensionales, bidimensionales y tridimensionales a nanoescala (imagen de electrones secundarios, imagen de electrones retrodispersados) .Se puede utilizar para analizar los componentes de punto, línea y superficie de la microrregión. Es ampliamente utilizado en petróleo, geología, campo mineral, electrónica, campo de semiconductores, medicina, campo de biología, industria química, campo de material polimérico, investigación criminal de seguridad pública, agricultura, silvicultura y otros campos.
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