A63.7069 Microscopio electrónico de barrido de filamentos de tungsteno, estándar. SEM, 6x ~ 600000x
| Filamento de tungsteno A63.7069 Microscópio electrónico escaneando, Std. SEM | ||
| Resolución | 3 nm a 30 KV (SE); 6 nm a 30 KV (EEB) | |
| Aumento | Ampliación negativa: 6x ~ 300000x; Ampliación de pantalla: 12x ~ 600000x | |
| Pistola de electrones | Cartucho de filamento de tungsteno precentrado en cátodo calentado con tungsteno | |
| Voltaje de aceleración | 0 ~ 30KV | |
| Sistema de lentes | Lente electromagnética de tres niveles (lente cónica) | |
| Apertura objetiva | Sistema de vacío exterior ajustable con apertura de molibdeno | |
| Etapa de la muestra | Etapa de cinco ejes | |
| Rango de viaje | X (automático) | 0 ~ 80 mm |
| Y (automático) | 0 ~ 60 mm | |
| Z (manual) | 0 ~ 50 mm | |
| R (manual) | 360º | |
| T (manual) | -5º ~ 90º | |
| Diámetro máximo de la muestra | 175 mm | |
| Detector | SE: Detector de electrones secundarios de alto vacío (con protección de detector) | |
| BSE: Detector de dispersión trasera de cuatro segmentos de semiconductores | ||
| CCD | ||
| Modificación | Actualización de etapa; EBL; STM; AFM; Etapa de calentamiento; Etapa criogénica; Etapa de tracción; Manipulador micro-nano; SEM + Máquina de recubrimiento; SEM + Láser | |
| Accesorios | CCD, LaB6, detector de rayos X (EDS), EBSD, CL, WDS, máquina de recubrimiento | |
| Sistema de vacío | Bombas turbo moleculares; bomba de rotación | |
| Corriente de haz de electrones | 10pA ~ 0.1μA | |
| ordenador personal | Estación de trabajo Dell personalizada | |
La microscopía electrónica de barrido (sem) es adecuada para la observación de la topografía de la superficie de metales, cerámicas, semiconductores, minerales, biología, polímeros, compuestos y materiales unidimensionales, bidimensionales y tridimensionales a nanoescala (imagen de electrones secundarios, imagen de electrones retrodispersados) .Se puede utilizar para analizar los componentes de punto, línea y superficie de la microrregión. Es ampliamente utilizado en petróleo, geología, campo mineral, electrónica, campo de semiconductores, medicina, campo de biología, industria química, campo de material polimérico, investigación criminal de seguridad pública, agricultura, silvicultura y otros campos.
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