Microscopio electrónico de barrido de filamentos de tungsteno, Eco. SEM, 15x ~ 250000x

A63.7062

Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno 15x ~ 25000x, estándar. SEM

LaB6 actualizable, detector de rayos X, EBSD, CL, WDS, máquina de recubrimiento y etc.

Modificación múltiple EBL, STM, AFTM, etapa Heatign, etapa criogénica, etapa de tracción, SEM + láser y etc.

Calibración automática, detección automática de fallas, bajo costo para mantenimiento y reparación

Interfaz de operación fácil y amigable, todo controlado por mouse en el sistema Windows

Cantidad mínima de pedido:1

Detalle del producto

Descripción del producto

Filamento de tungsteno A63.7062 Microscópio electrónico escaneando, Eco. SEM
Resolución	4.5nm@30KV (SE); 6 nm a 30 KV (EEB)
Aumento	Ampliación negativa: 15x ~ 250000x; Ampliación de pantalla: 30x ~ 500000x
Pistola de electrones	Cartucho de filamento de tungsteno precentrado en cátodo calentado con tungsteno
Voltaje de aceleración	0 ~ 30KV
Sistema de lentes	Lente electromagnética de tres niveles (lente cónica)
Apertura objetiva	Sistema de vacío exterior ajustable con apertura de molibdeno
Etapa de la muestra	Etapa de cinco ejes
Rango de viaje	X (automático)	0 ~ 50 mm
Y (automático)	0 ~ 50 mm
Z (manual)	0 ~ 25 mm
R (manual)	360o
T (manual)	-5o ~ 90o
Diámetro máximo de la muestra	150 mm
Detector	SE: Detector de electrones secundarios de alto vacío (con protección de detector)
Modificación	Actualización de etapa; EBL; STM; AFM; Etapa de calentamiento; Etapa criogénica; Etapa de tracción; Manipulador micro-nano; SEM + Máquina de recubrimiento; SEM + Láser
Accesorios	CCD, LaB6, detector de rayos X (EDS), EBSD, CL, WDS, máquina de recubrimiento
Sistema de vacío	Bombas turbo moleculares; bomba de rotación
Corriente de haz de electrones	10pA ~ 0,1